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32-硬件SPI访问FLASH-PM25LV040-串口2监控,STC32G12K128实验箱演示程序,STC32G8K64, 芯*** 2026-6-26 045 芯*** 2026-6-26 13:36
31-IO扫描键红外发射-同时接收数码管显示用户码键值程序,STC32G12K128实验箱演示程序 芯*** 2026-6-26 044 芯*** 2026-6-26 13:35
30-红外发射程序(NEC码)-使用PWM4产生38KHz载波,STC32G12K128实验箱演示程序,STC32G 芯*** 2026-6-26 053 芯*** 2026-6-26 13:34
29-红外遥控接收程序(NEC码)-数码管显示用户地址和键值,STC32G12K128实验箱演示程序 芯*** 2026-6-26 062 芯*** 2026-6-26 13:32
28-I2C主机模式访问AT24C02程序,STC32G12K128实验箱演示程序,STC32G8K64,STC32CL8K6 芯*** 2026-6-26 060 芯*** 2026-6-26 11:39
27-I2C从机中断模式与IO口模拟I2C主机进行自发自收,STC32G12K128实验箱演示程序,STC 芯*** 2026-6-26 044 芯*** 2026-6-26 11:36
26-高级PWM5-PWM6-PWM7-PWM8输出测试程序,STC32G12K128实验箱演示程序,STC32G8K64,S 芯*** 2026-6-26 048 芯*** 2026-6-26 11:34
25-高级PWM1-PWM2-PWM3-PWM4,驱动P6口呼吸灯实验程序,STC32G12K128实验箱演示程序, 芯*** 2026-6-26 077 芯*** 2026-6-26 11:33
23-利用P3.7做比较器正极输入源,内部1.19V或P3.6口做负极输入源,STC32G12K128实验箱 芯*** 2026-6-26 048 芯*** 2026-6-26 11:15
20-使用比较器检测低电压时保存数据到EEPROM,STC32G12K128实验箱演示程序,STC32G8K6 芯*** 2026-6-26 057 芯*** 2026-6-26 11:12
19-使用LVD低压检测中断保存EEPROM,STC32G12K128实验箱演示程序,STC32G8K64,STC32CL 芯*** 2026-6-26 046 芯*** 2026-6-26 11:10
18-通过串口2发送命令读写EEPROM测试程序,STC32G12K128实验箱演示程序,STC32G8K64,S 芯*** 2026-6-26 044 芯*** 2026-6-26 11:09
17-NTC测温度数码管显示,STC32G12K128实验箱演示程序,STC32G8K64,STC32CL8K64 芯*** 2026-6-26 038 芯*** 2026-6-26 10:15
16-ADC键盘扫描数码管显示键值和调整时间,STC32G12K128实验箱演示程序,STC32G8K64,S 芯*** 2026-6-26 053 芯*** 2026-6-26 10:13
15-IO行列扫描键盘数码管显示键值和调整时间,STC32G12K128实验箱演示程序,STC32G8K6 芯*** 2026-6-26 054 芯*** 2026-6-26 10:12
14.2-串口2与串口3通信测试程序,STC32G12K128实验箱演示程序,STC32G8K64,STC32CL8K 芯*** 2026-6-26 041 芯*** 2026-6-26 10:10
14.1-串口1串口2中断模式与电脑收发测试,STC32G12K128实验箱演示程序,STC32G8K64,ST 芯*** 2026-6-26 040 芯*** 2026-6-26 10:09
13-串口4中断模式与电脑收发测试,STC32G12K128实验箱演示程序,STC32G8K64,STC32CL8K 芯*** 2026-6-26 040 芯*** 2026-6-26 10:07
12-串口3中断模式与电脑收发测试,STC32G12K128实验箱演示程序,STC32G8K64,STC32CL8K 芯*** 2026-6-26 030 芯*** 2026-6-26 10:04
11-串口2中断模式与电脑收发测试,STC32G12K128实验箱演示程序,STC32G8K64,STC32CL8K 芯*** 2026-6-26 044 芯*** 2026-6-26 10:03
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