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楼主: 神农鼎

过采样,将STC的12位ADC拉到13位/14位/16位的尝试

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发表于 2024-3-2 08:18:29 | 显示全部楼层
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发表于 2024-10-13 12:05:52 | 显示全部楼层
超过转换精度,强行拉高采集位数的结果,是否稳定可靠呢?个人持怀疑态度。
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发表于 2024-12-14 22:03:10 | 显示全部楼层

像我采集1V以下的电压,参考电压从VCC的5V改成1.25V输入,实际采样AD值就放大了两位。

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发表于 2024-12-14 22:16:35 | 显示全部楼层
2.4V =< ADC_VRef+ <= MCU_VCC
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发表于 2024-12-14 23:56:21 | 显示全部楼层
如果本身就是非常干净的电压信号(噪声在1~2LSB内跳动),过采样技术对分辨率和精度均不能提高,没有任何意义。
如果信号本身叠加了白噪声,抑或人为对信号注入正负半周能量对称的白噪声,那过采样才会有提升采样精度的效果,
而且注入噪声越强,过采样频率越高,理论采样分辨率越高。
当然,任何技术都有其弊端,过采样技术能提高采样分辨率,但对采样精度的提升比较有限,主要与ADC结构和噪声谱的特性相关,因此要求不高可以尝试一二。
睁开眼睛做场梦~~~
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发表于 2024-12-15 07:28:06 | 显示全部楼层
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