🌓 切换到窄版

国芯人工智能技术交流网站»车规 MCU, STC, 32位51技术论坛, AEC-Q100 Grade1 › 技术交流 › 实验箱，核心功能实验板，大学教材 › STC33F系列ARM内核芯片内部测试程序

1 23 / 3 页

返回列表发新帖

楼主: admin

STC33F系列ARM内核芯片内部测试程序

打卡等级：以坛为家III
打卡总天数：876
最近打卡：2026-05-01 00:00:52

13 主题	1358 回帖	7347 积分

积分: 7347

发表于 2026-4-11 14:18:47 | 显示全部楼层

stc学*** 发表于 2026-4-11 10:26
现在有进展了吗？

要等到明年2027。
截图202604111421225374.jpg

截图202604111421225374.jpg

回复

使用道具举报送花

1 23 / 3 页

返回列表发新帖

|手机版|深圳国芯人工智能有限公司 ( 粤ICP备2022108929号-2 )

GMT+8, 2026-5-1 10:29 , Processed in 0.108442 second(s), 45 queries .

Powered by Discuz! X3.5

© 2001-2026 Discuz! Team.

快速回复 返回顶部 返回列表