本帖最后由 feiyu 于 2024-3-8 13:24 编辑
xiangzichen 发表于 2024-3-8 13:18
这也很猛了.
目前还在更新，具体以后续帖子内容为准，测试结果感觉是跟硬件体质有关，不一定每个扇区都能百万次，现在测到的有60w次挂了
正规程序建议按官方写的10w来规划。
十万次应该是保底估计
STC8H/STC32G的 DataFlash/EEPROM 是 10万次以上/25年@125度
对外只会宣称 DataFlash/EEPROM：10万次以上/20年@125度
===这些都是晶圆级在炼丹炉中真金不怕火炼
72小时@250度高温烘烤，不丢失数据才放到人间来溜达的
仰天大笑出门去，我辈岂是蓬蒿人
如果是 25度，那就100年以上了
最后封装级 8小时@175度高温烘烤，都是成本 ！！！
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车规 AEC-Q100 Grade1 认证 ！STC32G12K128 已通过，-40度 ~ +125度 - CAN/Lin/CANOpen/已通过车规 AEC-Q100 Grade1(-40 ~ +125度) - 国芯论坛-STC全球32位8051爱好者互助交流社区 - STC全球32位8051爱好者互助交流社区 (stcaimcu.com)
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至今什么情况了？
jwg 发表于 2024-3-11 10:04
至今什么情况了？
帖子正文已经更新了
写10万次要多久啊
最终STC32G的EEPROM写入寿命测试还是很有实际参考价值的，期待STC8H等主流型号MCU的测试。
125度，10万次 以上
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写过车辆的仪表，100米记录一次，车辆跑了10万多公里，相当于擦除写入100万次了，没有发现有车辆数据错误的。{:4_174:}
还可以这样玩，学习了{:4_165:}