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利用ADC15通道在内部固定接的1.19V辅助固定信号源 ！ 反推 其他ADCx通道的外部输入电压，ADC0 ~ ADC14
反推 VCC, 【ADC_VREF+/ADC_AVCC/MCU_VCC】
采样转换二次，只需要计算一次
===1，假定ADC采样转换足够快 ===2，假定2次ADC转换期间，【ADC_VREF+/ADC_VCC/MCU_VCC】不变，变的误差也可以接受 ===3，应用场景，【ADC_VREF+/ADC_AVCC/MCU_VCC】 这3条重要的电源线直接接在一起
8H/8G/8A系列 单片机内部集成了一个10位/12位高速A/D转换器。ADC的时钟频率为系统频率2分频再经过用户设置的分频系数进行 再次分频（ADC的工作时钟频率范围为SYSclk/2/1到SYSclk/2/16）。 STC8H系列的ADC最快速度：12位ADC为800K（每秒进行80万次ADC转换），10位ADC为500K（每秒进行50万次ADC转换） ADC转换结果的数据格式有两种：左对齐和右对齐。可方便用户程序进行读取和引用。
注意：ADC的第15通道是专门测量内部1.19V参考信号源的通道，参考信号源值出厂时校准为1.19V，由于制造误差以及测量误差， 导致实际的内部参考信号源相比1.19V，大约有±1%的误差。如果用户需要知道每一颗芯片的准确内部参考信号源值，可外接精准 参考信号源，然后利用ADC的第15通道进行测量标定。ADC_VRef+脚外接参考电源时，可利用ADC的第15通道可以反推ADC_VRef+脚 外接参考电源的电压；如将ADC_VREF+短接到MCU-VCC，就可以反推MCU-VCC的电压。 如果芯片有ADC的外部参考电源管脚ADC_VRef+，则一定不能浮空，必须接外部参考电源或者直接连到VCC =====================================================================
使用ADC的第15通道固定接的1.19V辅助信号源，反推外部通道输入电压，假设
当前已获取了内部参考信号源电压为BGV，从CHIP中读取，或STC-ISP烧录时指定将重要参数烧录入程序Flash
内部参考信号源的ADC15测量值为resbg，对ADC15/1.19V采样转换一次就知到转换后的值
外部通道输入电压的ADCx测量值为resx, 对ADCx的外部输入信号采样转换一次就知到转换后的值
则外部通道输入电压Vx＝BGV / resbg * resx；
采样转换二次，只需要计算一次
注意，是假定2次采样转换期间 【ADC_VREF+ = ADC_VCC = MCU_VCC】不变
===所以对外部采样转换一次，也要对内部ADC15接的信号源立即采样转换一次
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19.7.4 利用ADC第15通道测量外部电压或电池电压STC8H系列ADC的第15通道用于测量内部参考信号源，由于内部参考信号源很稳定，约为1.19V， 且不会随芯片的工作电压的改变而变化，所以可以通过测量内部1.19V参考信号源， 然后通过ADC的值便可反推出外部电压或外部电池电压。 下图为参考线路图:
C语言代码
//测试工作频率为11.0592MHz #include "stc8h.h" #include "intrins.h" #define FOSC 11059200UL #define BRT (65536-(FOSC / 115200+2) / 4) //加2操作是为了让Keil编译器 //自动实现四舍五入运算 int *BGV; //内部参考信号源值存放在idata中 //idata的EFH地址存放高字节 //idata的F0H地址存放低字节 //电压单位为毫伏(mV) bit busy; void UartIsr() interrupt 4 { if(TI) { TI = 0; busy = 0; } if(RI) { RI = 0; } } void UartInit() { SCON= 0x50; TMOD= 0x00; TL1= BRT; TH1= BRT >> 8; TR1= 1; AUXR= 0x40; busy= 0; } void UartSend(char dat) { while(busy); busy= 1; SBUF= dat; } void ADCInit() { ADCTIM= 0x3f; //设置ADC内部时序 ADCCFG= 0x2f; //设置ADC时钟为系统时钟/2/16 ADC_CONTR= 0x8f; //使能ADC模块,并选择第15通道 } int ADCRead() { intres; ADC_CONTR|= 0x40; //启动AD转换 _nop_(); _nop_(); while(!(ADC_CONTR & 0x20)); //查询ADC完成标志 ADC_CONTR&= ~0x20; //清完成标志 res= (ADC_RES << 8) | ADC_RESL; //读取ADC结果 returnres; } void main() { intres; intvcc; inti; P_SW2|= 0x80; //使能访问XFR P0M0= 0x00; P0M1= 0x00; P1M0= 0x00; P1M1= 0x00; P2M0= 0x00; P2M1= 0x00; P3M0= 0x00; P3M1= 0x00; P4M0= 0x00; P4M1= 0x00; P5M0= 0x00; P5M1= 0x00; BGV= (int idata *)0xef; ADCInit(); //ADC初始化 UartInit(); //串口初始化 ES= 1; EA= 1; // ADCRead(); // ADCRead(); //前两个数据建议丢弃 res= 0; for(i=0; i<8; i++) { res += ADCRead(); //读取8次数据 } res>>= 3; //取平均值 vcc= (int)(4096L * *BGV / res); //(12位ADC算法)计算VREF管脚电压,即电池电压 // vcc= (int)(1024L * *BGV / res); //(10位ADC算法)计算VREF管脚电压,即电池电压 //注意,此电压的单位为毫伏(mV) UartSend(vcc>> 8); //输出电压值到串口 UartSend(vcc); while(1); }
上面的方法是使用ADC的第15通道反推外部 MCU_VCC电压 / 电池电压 的, 电池直接给MCU_VCC供电。
在ADC测量范围内，ADC的外部测量电压与ADC的测量值是成正比例的， 所以也可以使用ADC的第15通道反推外部通道输入电压，
假设 当前已获取了内部参考信号源电压为BGV， 内部参考信号源的ADC测量值为resbg， 外部通道输入电压的ADC测量值为resx，
则外部通道输入电压Vx＝BGV / resbg * resx； 注意，是假定2次采样转换期间 【ADC_VREF+ = ADC_VCC = MCU_VCC】不变
===所以对外部采样转换一次，也要对内部ADC15接的信号源立即采样转换一次
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发表于 2023-8-13 10:22:01
发表于 2023-10-1 16:43:12
