帖子内容我看到了：楼主只用了一个 100kΩ 和 5kΩ 的限流电阻，没有分压，直接采 4.2V 左右的锂电（MCU 供电 5V，VREF 也是 5V）。这里我先讲清原理，再给具体建议。
一、为什么 5kΩ 也不准 —— 根本原因
手册「两组12位模数转换」的 ADC 静态特性表给出了 ADC 输入的等效模型：
| 符号 |
描述 |
典型值 |
| R_{AIN} |
通道等效电阻 |
∞ |
| R_{ESD} |
采样保持电容前串接的抗静电电阻 |
700 Ω |
| C_{ADC} |
内部采样保持电容 |
16.5 pF |
关键就在这里：R_{AIN} 是 ∞，但 C_{ADC} 只有 16.5pF，前面串了 700Ω 的 R_{ESD}。ADC 采样不是"直接读电压"，而是每次采样时把内部 16.5pF 电容和外部信号源连一下，靠充电达到平衡。外部串联电阻越大，充电时间常数越大，如果采样窗口不够长，电容充不到外部电压，转换结果就偏小——这正是楼主看到的"偏小"。
手册在 ADC_CONTR 寄存器处专门写了这条（原文）：
2、适当加长对外部信号的采样时间，就是对ADC内部采样保持电容的充电或放电时间，时间够，内部才能和外部电势相等。
所以**"电阻小就更准"的本质是时间常数小、充得快**，不是 ADC 输入阻抗的问题。
二、采样时间怎么配（这是解决问题的第一步）
手册 ADC1 时序控制寄存器 ADCTIM 的 SMPDUTY[4:0] 决定采样时间，单位是 ADC 时钟数，且原文明确要求：
注意：SMPDUTY一定不能设置小于01010B
| SMPDUTY[4:0] |
ADC时钟数 |
| 01010 |
11（默认值） |
| 11111 |
32（最大） |
要采大内阻信号，把 SMPDUTY 设到最大 11111B（32 个 ADC 时钟），这是最容易见效的一步。同时 ADC 时钟不要设太快（ADC 时钟由 ADCCFG 分频，具体分频位请以你所用型号的 ADCCFG 寄存器定义为准）。
三、电阻取值的经验算法（结合手册参数推算）
充电到 1/2 LSB 精度（12 位、VREF=5V，1 LSB ≈ 1.22mV，半 LSB ≈ 0.61mV），需要约 8.5 个时间常数（\ln(5V/0.61mV) \approx 9，取 9 个 τ 更保险）。
时间常数 \tau = (R_{ext} + R_{ESD}) \times C_{ADC} = (R_{ext}+700\Omega) \times 16.5pF
采样窗口 T_{samp} = SMPDUTY \times T_{ADC}
举例（仅用于说明量级，实际请按你的 ADCCFG 分频算）：若 ADC 时钟取 1MHz（T_{ADC}=1\mu s），SMPDUTY=32，则 T_{samp} = 32\mu s。
则要求 $9\tau \le 32\mu s → \tau \le 3.56\mu s → R_{ext} \le \dfrac{3.56\mu s}{16.5pF} - 700 \approx 215k\Omega$。
也就是说理论上 215kΩ 以内都能满足 12 位精度。那为什么楼主 5kΩ 都不准？——因为楼主的 ADC 时钟/SMPDUTY 大概率是默认配置，采样窗口远小于上面假设。ADCCFG 若分频到 8MHz 甚至更高，T_{samp} 只有几微秒，5kΩ 都来不及充满。这是需要先检查的第一件事。
⚠️ 以上 τ 计算是我基于手册给出的 R_{ESD}=700\Omega、C_{ADC}=16.5pF 参数做的推导，手册原文并未直接给出"外部电阻上限 215kΩ"这个数字，仅为工程推算，供你参考。实际请以实测为准。
四、工程上真正推荐的做法
方案 A：加采样电容（最推荐，成本 1 分钱）
在 ADC 引脚对地加 0.1μF（100nF） 电容，串联电阻取 1kΩ ~ 10kΩ。
原理：外部电容作为"电荷池"，ADC 采样时 16.5pF 内部电容直接和 100nF 外部电容并联均压，100nF 是 16.5pF 的 6000 倍，电压几乎不掉，瞬间充满，对外部串联电阻的敏感度大幅降低。这才是解决"高内阻信号源采不准"的行业通用做法。
同时 100nF 对 DC-DC 的开关噪声是一阶低通，截止频率 f = \dfrac{1}{2\pi R C}，R=10k、C=100nF 时约 159Hz，每秒采 1 次的锂电池电压完全不受影响，而开关噪声被压掉。一举两得，正好解决楼主担心的"DC升压模块电感噪声"。
方案 B：分压电阻的取值
测超过 VREF 的电压必须分压。分压网络要给两个数：
- 总阻值：既要满足上面的充电时间（加 100nF 后基本不成问题），又要控制功耗。锂电池系统，总阻值取 100kΩ ~ 1MΩ 均可；若取 2×100kΩ，4.2V 下电流 21μA，功耗 88μW，可接受。
- 在分压中点对地加 100nF 电容（注意：电容接在 ADC 输入脚，即分压中点与地之间），这样分压电阻的高阻不会影响采样精度。
关于"倒灌"问题：楼主最初直连锂电正极导致 MCU 断电时倒灌，串联电阻只能限流不能阻断。正确做法是分压 + 串联电阻 + 100nF，或者用 I/O 控制一个 PMOS 开关来选通采样回路（只在采样瞬间导通），这样平时完全断开，零漏电、零倒灌。
五、给你一份具体建议参数
| 项目 |
建议值 |
理由 |
| 分压上阻 |
200kΩ |
4.2V 下电流 ~21μA |
| 分压下阻 |
200kΩ（中点输出） |
分压比 1/2，4.2V→2.1V，< 5V VREF |
| 分压中点对地电容 |
100nF |
电荷池 + 抗 DC-DC 噪声 |
| ADC 前串联电阻 |
1kΩ（可选） |
与 100nF 组成低通，同时保护 I/O |
| 采样时间 SMPDUTY |
11111B（32 个 ADC 时钟） |
手册允许的最大值 |
| ADC 时钟 |
尽量慢，取 1~2MHz 量级 |
拉长采样窗口 |
| I/O 模式 |
高阻输入（PxM0/PxM1） |
手册明确要求 |
注意手册原文的强制要求：
被选择为ADC输入通道的I/O口，必须设置PxM0/PxM1寄存器将I/O口模式设置为高阻输入模式。
以及上电时序：
给MCU的内部ADC模块电源打开后，需等待约1ms，等MCU内部的ADC电源稳定后再让ADC工作。
这两条不要漏。
六、还需要你确认的信息
- 你用的是哪颗芯片？ 上面参数取自 STC32G144K246 手册，不同型号的 ADC 可能有差异（比如 STC8H 有些型号 ADC 是 10 位、C_{ADC} 参数不同），需要按你实际型号核对。
- ADC 时钟和 SMPDUTY 现在设的是多少？ 这直接决定 5kΩ 是否够用。
- 分压比：你要测的最高电压是多少？VREF 用的是 VCC 还是内部 1.19V 基准（手册「ADC模数转换」章节提到内部 1.19V 参考信号源，可反推 VCC，也可做高精度基准）？
- 是否需要彻底断电防倒灌（用 I/O 控 PMOS）？
请补充这几点，我可以帮你把参数和寄存器配置一次定下来。
小结：ADC 输入端加了 5kΩ 反而不准，问题不在电阻本身，而在于手册给出的 C_{ADC}=16.5pF 采样保持电容需要足够的充电时间；手册原文明确要求"SMPDUTY 一定不能设置小于 01010B"，并且"适当加长采样时间"。正确做法是：SMPDUTY 设到最大 + 分压中点对地加 100nF 电容 + 分压电阻取 100k~1MΩ 级别，这样既解决了精度，又同时抑制了 DC-DC 的开关噪声。纯靠减小串联电阻来"凑准"不是好办法，会白白浪费功耗。
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