EL357那个厂家比较好？

xiaob***

供应商说是原装的，偶尔会有问题，测试中时好时坏。
输入10MA，输出几乎没有，就标准IO没有外接上拉电阻都拉不下来。
关键是没怎么用。
后来测试初级，用电阻档，发现有170几欧姆电阻，正常是无穷大的才对吧。数字表的电阻档是打不开里面二极管的吧。很奇怪。

国芯人***

关于EL357光耦器件的质量问题，您所描述的现象确实值得深入分析。EL357作为一种常见的光耦合器，在工业控制、电源管理、信号隔离等场景中广泛应用，其性能稳定性直接影响系统可靠性。以下从技术角度出发，对您提到的问题进行分析，并提供一些建议供参考。

一、EL357简介与正常工作原理

EL357是一款典型的线性光耦，内部由一个红外LED（发光二极管）和一个光电晶体管组成。其工作原理是：输入端施加电流驱动LED发光，光信号通过隔离层被光电晶体管接收并转换为输出电流。EL357具有良好的线性度和隔离性能，适用于模拟信号传输或数字开关应用。
典型工作参数：
正向电流（IF）：最大60mA
集电极-发射极电压（VCE）：最大30V
电流传输比（CTR）：一般在50%~600%之间（依型号后缀不同）
输入端驱动电流通常为10mA左右

二、问题现象分析

1. 输出不稳定，时好时坏

您提到“输入10mA，输出几乎没有”，这说明LED端已经正常工作，但光电晶体管未能有效导通。可能的原因包括：
CTR下降或晶体管老化：CTR是衡量光耦性能的重要指标，CTR下降会导致输出电流不足，甚至无输出。若CTR显著下降，可能说明器件内部存在老化、受潮或制造缺陷。
封装漏电或绝缘失效：如果光耦的隔离性能下降，可能导致输入与输出之间发生漏电或短路。
焊接或接触不良：PCB焊接不良、引脚氧化也可能导致间歇性故障。

2. 初级电阻测量为170Ω，而非无穷大

用万用表电阻档测量输入端（即LED端），正常情况下应为开路（无穷大），因为LED在正向电压下才会导通，而万用表的电阻档输出电压较低（通常为2~3V），不足以点亮LED。

但您测得170Ω，这说明：
LED已损坏或击穿：LED可能在使用中因过流、静电或反向电压而损坏，导致其内部短路或部分导通。
万用表误测：某些万用表在测量二极管或LED时会显示导通电压（单位为mV），而不是电阻值。请确认是否误用了“二极管测试档”。
芯片内部结构异常：不排除芯片内部结构设计或制造工艺缺陷，导致异常导通。

3. 标准IO未接上拉仍无法拉低

这可能与输出端晶体管的驱动能力有关。如果CTR不足，晶体管无法完全导通，导致输出无法有效拉低。建议：
测量输出端的电压变化，确认是否为晶体管导通不良；
使用示波器观察输入与输出的波形关系；
更换器件进行对比测试。

三、原装与非原装EL357的识别与质量差异

目前市场上EL357存在大量仿制品、翻新件或降级品，尤其在电商或非正规渠道采购时风险较高。以下是判断原装与否的一些方法：

1. 封装与外观检查
原装EL357封装整洁，字体清晰，颜色均匀；
非原装产品可能存在字体模糊、封装不平整、颜色不一致等问题。

2. 器件标识与批次信息
原装产品通常带有完整的厂商Logo、型号、批次号等；
假货可能无批次号、Logo模糊或标注错误。

3. CTR测试与参数一致性
使用专用光耦测试仪或搭建测试电路，测量CTR值；
原装EL357的CTR一致性高，且符合规格书参数；
假货CTR波动大，甚至低于50%，无法满足使用需求。

4. 供应商资质与渠道
建议通过授权代理商或原厂渠道采购；
非法渠道或“原装”标称但无溯源的产品需谨慎对待。

四、建议解决方案

1. 更换测试

建议使用已知良好的EL357进行替换测试，以确认是否为器件本身问题。

2. 搭建标准测试电路

搭建标准测试电路用于测量CTR：
输入端接10mA电流源；
输出端接5V电源+1kΩ上拉电阻；
测量输出端电压，计算输出电流；
CTR = (输出电流 / 输入电流) × 100%

3. 与供应商沟通确认

建议与供应商沟通以下几点：
提供批次号、出厂日期、原厂出货证明；
要求提供测试报告或数据手册；
若为仿制品，应明确告知并协商退换。

4. 考虑替代型号

若EL357频繁出现问题，可考虑以下替代方案：
TLP521、PC817：性能稳定，价格适中，广泛使用；
HCNR201、IL300：用于高精度线性应用；
高速光耦如6N137、HCPL-2631：适用于数字隔离、高速场合。

五、结语

EL357作为一种基础光耦，其性能直接影响电路的稳定性和可靠性。您所遇到的问题——输出不稳定、输入端电阻异常等，极有可能是器件本身存在质量问题，尤其在“原装”存疑的情况下更应引起重视。

建议从以下几个方面着手：
严格测试验证器件性能；
明确采购渠道与供应商资质；
必要时更换型号或升级电路设计。

如需进一步技术支持或测试电路设计建议，欢迎继续交流。

国芯人工智能 敬上

[本文内容由国芯人工智能辅助生成，仅供参考]

网***

多半是生产时静电防护没做到位引起

xiaob***

网*** 发表于 2025-10-4 12:20
多半是生产时静电防护没做到位引起

虽然概率比较低，但是有。
怎样防护？

xiaob***

出现问题时测量了次级的波形，因为初级只有简单滤波，没有稳压，所以事实上驱动电流应该也是有点脉动的。
这个脉动完整的出现在次级，幅度大概是4-4.5之间。此时应该是直接拉到0的
断电，测量初级电阻，对比其他几个，发现不正常，此时再次上电，工作是正常的。该光耦初级完全没有变，但是次级正常拉到0了。
不放心，直接换了一个新的。
这情况不多，但是之前有类似问题的板子，只是客户反应，没拿到手检测。所以怀疑这个概率其实还是比较高的。
静电防护，这个都是机器贴好的，并联有电阻，这样子后期测试搬动过程中是不是就不存在静电问题了？

xiaob***

另外有没有一种可能，出问题的时候，对应的CPU引脚此时从标准IO变为推挽模式了？

网***

原理图发上来看看

zengc***

光耦可以单独作简单测试的吧

xiaob***

网*** 发表于 2025-10-4 22:02
原理图发上来看看

网***

xiaob*** 发表于 2025-10-5 09:38

咱们计算下,假如光耦输入拉到地.单片机IO脚配置为推挽高电平5V,
因光耦自身的恒流特性,初级10mA左右,常规光耦电流传输比100-200%样子,
光耦次级电流会限制在10mA*200%=20mA,功耗5V*20mA=100mW,
这功耗接近光耦输出管的极限了,
如果有个别光耦电流传输比更大些,比如400以上,长时间工作可能会损坏光耦次级.
如果实测问题光耦的初级都是好的,次级没输出.多半是这个原因了.
针对上面原因.可以可考虑在光耦输出串联合适限流电阻.或者严格进货型号,限制光耦的传输比.最根本办法是不要让IO变成推挽高输出.

但是,如果实测问题光耦的初级LED坏的,以上推论不成立.光耦损坏原因仍然要考虑静电损伤.
注意,是静电损伤而不是损坏.损伤的意思是暂时没坏,但有了缺陷,不确定什么时候就会扩大缺陷导致LED彻底失效损坏.这也是静电问题的特点之一.

另外,虽然焊到板上的光耦LED,不太容易受静电损坏,但要看静电强度,假如足够强的静电,或者输入端意外接入高压,有可能软击穿光耦的LED,
建议在光耦输入端反并联二极管钳位,或并联小容量电容吸收尖峰电压.生产过程要保证光耦从入库出库,在到产线焊装,直到成品包装出货,全流程严格做好静电防护工作.任何一个环节出问题都会引起不良品流出.