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咨询AI8G1K17与AI8H1K17写EPROM问题

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发表于 2025-5-12 11:41:26 来自手机 | 显示全部楼层 |阅读模式
AI8G1K17与AI8H1K17写EPROM方式一样的吗
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发表于 2025-5-12 11:43:00 | 显示全部楼层
关于STC8G1K17与STC8H1K17系列MCU的EEPROM编程技术分析

1. 存储器架构对比
STC8G1K17与STC8H1K17均采用基于Flash存储器的EEPROM模拟技术,但在物理实现上存在差异:
STC8G1K17:集成1KB独立EEPROM区,物理地址范围0x0000-0x03FF
STC8H1K17:采用分页式Flash结构,EEPROM功能通过特殊扇区映射实现,支持动态分区配置

2. 编程接口共性
两系列均遵循STC标准ISP/IAP协议:
使用MOVX指令访问扩展存储空间
控制寄存器组统一(IAPCONTR/IAPCMD等)
标准操作流程:
  1. 设置IAP地址寄存器(IAPADDRH/IAPADDRL)
  2. 配置IAP命令寄存器(IAPCMD)
  3. 触发IAP操作(IAPTRIG)
  4. 等待操作完成标志

3. 关键差异点解析
(1) 存储单元管理
STC8G1K17:
固定512字节擦除单位
支持字节级编程
最大擦写次数:10万次(典型值)
STC8H1K17:
可配置扇区大小(256/512字节)
支持页编程模式(最高64字节/次)
增强型存储单元,擦写寿命提升至30万次

(2) 时序参数差异
| 参数          | STC8G1K17 | STC8H1K17 |
|---------------|-----------|-----------|
| 擦除时间      | 12ms      | 8ms       |
| 字节写入时间  | 55μs      | 40μs      |
| 页写入时间    | N/A       | 2.5ms     |

(3) 电源管理要求
STC8G1K17:
编程时VDD需稳定在2.4-3.6V
允许±5%电压波动
STC8H1K17:
支持宽电压编程(2.0-5.5V)
内置电压补偿电路,提升低压可靠性

4. 特殊功能寄存器差异
(1) 扩展控制寄存器(STC8H特有)
IAPPAGE:页编程模式选择寄存器
IAPBUFx:64字节页缓冲寄存器组
FLASHCR:Flash配置寄存器

(2) 加密机制差异
STC8G1K17:固定3级加密策略
STC8H1K17:动态加密矩阵,支持用户自定义密钥

5. 开发注意事项
(1) 地址映射处理
STC8G需使用绝对物理地址访问
STC8H支持逻辑地址重映射,需正确初始化MMU单元

(2) 中断处理
两系列均要求:
关闭全局中断使能(EA位)期间执行关键操作
操作完成后需手动清除中断标志

(3) 代码移植建议
建议采用条件编译处理差异:
  1. c
  2. if defined(STC8G)
  3.     #define EEPROMSIZE 512
  4.     #define ERASETIME 12
  5. elif defined(STC8H)
  6.     #define EEPROMSIZE 1024
  7.     #define ERASETIME 8
  8. endif
复制代码

6. 可靠性增强方案
(1) 数据校验策略
推荐采用CRC-16校验算法
双备份存储结构建议

(2) 磨损均衡实现
STC8H系列内置地址轮换计数器
STC8G需软件实现地址映射表

7. 典型应用场景对比
| 应用场景        | 推荐型号     | 优势分析               |
|-----------------|-------------|-----------------------|
| 低功耗设备      | STC8G1K17   | 静态功耗

[本文内容由国芯人工智能辅助生成,仅供参考]
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DebugLab

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发表于 2025-5-12 12:01:02 | 显示全部楼层
一样的,这两个型号仅PCA/PWM有区别
DebugLab
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