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8H1K08 全球唯一id号重复问题

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发表于 2024-9-7 15:51:19 | 显示全部楼层 |阅读模式
我在使用过程中概率出现ID到号重复的问题,要怎么解决

微信图片_20240907154920.png
微信图片_20240907155014.png
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发表于 2024-9-8 10:22:59 | 显示全部楼层
如真有及少数 ID 号一致的,可以考虑 扩展ID号

将 1.19V参考源的实际记录的电压,当作ID号的扩展部分
===不是固定的数,制造误差的原因
将 内部 32K LIRC 时钟实际记录的当时的数值,当作ID号的扩展部分
===不是固定的数,制造误差的原因,这个不同的概率极大
拿来当扩展ID号

截图202409081024275342.jpg
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发表于 2024-9-7 16:38:02 来自手机 | 显示全部楼层
不大可能ID一样啊,且参比电压也一致。
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发表于 2024-11-6 22:18:08 | 显示全部楼层
从芯片测试技术上讲,如果不同的ATE机台上没有设置不同的参数,同一个机台的不同测试site没有设置不同的参数

仅通过测试时间等方法生成一个ID号码的话,确实有可能多个工位上偶然产生了一样的ID。

“全球唯一ID号”可能是GUID的中文名称,而并非每颗芯片自身完全不同的号码。
这可能需要STC官网测试人员提供这个ID号码的生成和计算方法
联系我请点击左下角的【回复】按钮,否则我收不到消息提
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发表于 2024-11-7 06:03:24 | 显示全部楼层
跟着学习了!!!!
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发表于 2024-11-7 08:44:24 | 显示全部楼层
这一样的就有点离谱了 建议收藏 不多见
STC 666 888
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发表于 2024-11-7 09:06:34 | 显示全部楼层
不知道 这ID号是出片后测试的时候加进去还是生产过程中直接加进去的?
加进去的ID号不是先通过电脑查重后再加进去的吗?
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发表于 2024-11-7 09:13:58 | 显示全部楼层
神*** 发表于 2024-9-8 10:22
如真有及少数 ID 号一致的,可以考虑 扩展ID号

将 1.19V参考源的实际记录的电压,当作ID号的扩展部分

意思是官方并不保证全球唯一ID号的唯一性?
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发表于 2024-11-7 20:31:58 | 显示全部楼层
本帖最后由 VCC 于 2024-11-7 20:32 编辑
xxkj*** 发表于 2024-11-7 09:06
不知道 这ID号是出片后测试的时候加进去还是生产过程中直接加进去的?
加进去的ID号不是先通过电脑查重后再 ...

测试产线上的机台非常多,他们都在各自给芯片写入ID号,ID号通过某种算法产生。

我认为没有必要为了写入完全唯一的序列号,让芯片测试多增加一个工序(会增加成本)
如果需要的话,应该通过ID号的生成算法保证,不同的机台不会产生相同的ID号
联系我请点击左下角的【回复】按钮,否则我收不到消息提
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发表于 2024-11-8 08:38:33 | 显示全部楼层
VC*** 发表于 2024-11-7 20:31
测试产线上的机台非常多,他们都在各自给芯片写入ID号,ID号通过某种算法产生。

我认为没有必要为了写入 ...

哦,那难怪会出现重复的id号,不过,同一用户拿到相同id的芯片,这概率真的是微乎其微。
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