实验DEMO程序8H8K64测试ADC_DMA,同一通道连续多次采样值越来越小。

jrry*** · 发表于 2025-12-3 09:48:21

实验DEMO程序8H8K64测试ADC_DMA,同一通道连续多次采样值越来越小，但IO脚电压是稳定的，连接采样16次，值有规律慢慢变小
只使用了第1，2通道采样，关闭了其它通道。

_奶*** · 发表于 2025-12-3 11:19:27

一个是你怎么确定的IO脚的电压是稳定的。。

二一个你的IO脚上外接了什么设备？

网*** · 发表于 2025-12-3 11:34:32

估计是ADC检测外面高阻抗信号,ADC每次采样把外面分布电容的电荷慢慢偷走了.
原题图贴上来分析

jrry*** · 发表于 2025-12-4 20:45:02

补充ADC采样部分原理图，用万用表和示波器测量湍口电压，基本是稳定的，谢谢！

网*** · 发表于 2025-12-4 22:37:38

jrry*** 发表于 2025-12-4 20:45
补充ADC采样部分原理图，用万用表和示波器测量湍口电压，基本是稳定的，谢谢！ ...

按照楼主电路,做个简单的仿真,模拟单片机内部ADC前端对5V信号的连续采样过程,可以说明问题了,
就是那个100k电阻和104滤波电容网络来不及补充能量,被片内取样保持电路逐渐偷走电荷造成的电压跌落,
因为跌落很不明显,而且万用表和示波器分辨率有限,很难用眼睛观察出这个现象.

网*** · 发表于 2025-12-4 22:41:54

看仿真结果,就是100k电阻和0.1uF电容造成的采样电压逐渐跌落.
实际电路可以把100k电阻换成1k或100R测试效果.

网*** · 发表于 2025-12-4 23:20:35

jrry*** 发表于 2025-12-4 20:45
补充ADC采样部分原理图，用万用表和示波器测量湍口电压，基本是稳定的，谢谢！ ...

根据楼主电路和单片机片内ADC前端,做个简单的仿真,可以明显看出连续采样时ADC采样电压跌落现象.
这个微小跌落用示波器和万用表基本看不出来的.
楼主可以试着把100K电阻改成1k或者100R,实测看ADC数据有没有明显改善.

jrry*** · 发表于 2025-12-8 17:02:44

100K电阻改成100R后，效果明显改善很多，多谢

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