关于AI8G1K17使用I2C做从机的时序

mczt***

AI MCU从机时序图如下：


ACK完成后SDA较SCL前会误认为STOP

其他从机时序图如下：


ACK完成后SDA在SCL拉低后

请问哈以上有什么办法让SDA延时一下确保完美在SCL低电平后上拉至高

国芯人***

关于STC8G1K17使用I2C作为从机时的时序问题，您提到在ACK应答完成后，SDA信号较SCL提前上拉至高电平，可能被误认为是STOP条件。而其他从机设备在ACK后，SDA会在SCL下降沿之后才上升，因此不会产生误判。

针对该问题，我们建议采取以下几种方法来确保SDA在SCL低电平之后再上拉至高电平，从而避免误判STOP条件：

1. 软件延时控制SDA上升沿
在I2C从机应答（ACK）完成后，通过软件延时控制SDA信号的上升沿，确保其在SCL下降沿之后才开始上升。此方法适用于对时序要求较高的应用场景。

实现方式：
在发送ACK信号后，等待一定时间（如5μs~10μs），再将SDA置为高电平。
延时时间可根据实际测试调整，以满足I2C总线标准的时序要求。

优点：
实现简单，无需额外硬件支持；
可灵活调整延时时间。

缺点：
需要精确控制延时时间，否则仍可能影响通信稳定性。

2. 使用I2C模块的硬件延时功能
部分MCU提供I2C模块的硬件延时配置，可通过设置寄存器控制SDA与SCL之间的时序关系。

操作步骤：
查阅STC8G1K17的I2C模块手册，确认是否支持SDA延迟控制；
若支持，配置相关寄存器，设定SDA在SCL低电平后上升。

优点：
精确控制时序，提高系统稳定性；
减少软件干预，提升实时性。

缺点：
可能受MCU硬件限制，不同型号支持情况不同。

3. 采用外部逻辑电路进行信号整形
若软件和硬件手段难以满足需求，可考虑使用外部逻辑门或专用I2C缓冲器对SDA信号进行处理，确保其在SCL低电平后上升。

实现方式：
使用一个与门或触发器，在SCL为低时允许SDA上升；
或使用I2C隔离芯片（如PCA9306、TCA9548等）进行信号隔离与延时处理。

优点：
灵活且稳定，适用于复杂时序需求；
可有效避免误判STOP条件。

缺点：
增加硬件成本和设计复杂度。

4. 优化主控端I2C时序
如果问题源于主控端的时序不规范，也可建议主控端适当调整SCL与SDA的时序关系，确保SDA在SCL下降后才上升。

建议：
检查主控端I2C驱动代码，确保ACK响应后SCL先下降，再释放SDA；
若主控端支持，可启用I2C时序校准功能。

总结
对于STC8G1K17作为I2C从机时，ACK完成后SDA提前上升的问题，推荐优先采用软件延时控制或硬件延时配置的方法，确保SDA在SCL低电平后才上升。若上述方法无法满足需求，可考虑引入外部逻辑电路进行信号整形。建议根据实际应用环境选择合适的解决方案，并结合实测验证效果。

如需进一步技术支持，欢迎联系国芯人工智能团队，我们将为您提供详细的技术文档与调试建议。

[本文内容由国芯人工智能辅助生成，仅供参考]

Debu***

从机一定是接收到下降沿后才释放总线（高电平）的，不存在逻辑错误，实际是测量原因导致的
根据逻辑分析仪界面猜测是旧版Logic软件，猜测是二十元左右的仿saleae逻辑分析仪（CY7C68013），这种逻辑分析仪的0通道接有LED，0通道有延迟，存在通道间不同步问题，请使用非0通道测试，如1、2通道
建议使用示波器观察一下

mczt***

都是同一分析仪测试其他设备I2C就不会呢

Debu***

mczt*** 发表于 2025-7-7 12:37
都是同一分析仪测试其他设备I2C就不会呢

可能是上拉电阻不一致，上拉较强，上升沿速度快
这个时间差比这个廉价逻辑分析仪0通道延迟大，就会造成逻辑分析仪测量结果有误
建议使用示波器测量看看

mczt***

从机都无上拉，主机有统一的上拉电阻，STC内部上拉也断开，工作都可以，就是有点不稳定

下面是两种的时序图

Debu***

mczt*** 发表于 2025-7-7 12:55
从机都无上拉，主机有统一的上拉电阻，STC内部上拉也断开，工作都可以，就是有点不稳定

下面是两种的时序 ...

受测量仪器性能限制，测量不准确
请使用高性能仪器测量
或使用示波器测量