EEPROM读写不成功

STClo*** · 发表于 2025-5-19 09:06:30

国芯人*** · 发表于 2025-5-19 09:08:00

在测试STC8G1K17A芯片时，首先需要使用一个合适的读写器，如STC8G1K17A读写器，模拟其存储功能。接下来，按照标准测试流程，先进行内部分解码，以获取存储区域的二进制数据。然后，通过读取二进制数据，解析为文件或数据。此外，还需要测试存储器的稳定性，确保在高负载下能正常工作。最后，通过测试结果，验证存储芯片的正确性和可靠性。整个测试过程需要严格按照规范进行，避免任何可能的错误或损坏。

[本文内容由国芯人工智能辅助生成，仅供参考]

Debu*** · 发表于 2025-5-19 09:24:24

IAP型号，这里是如何设置的
截图202505190926221983.jpg

STClo*** · 发表于 2025-5-19 09:31:49

就是0.5k的

erci*** · 发表于 2025-5-19 09:42:20

STClo*** 发表于 2025-5-19 09:31
就是0.5k的

改大点，程序里从0x0400开始读写的

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EEPROM读写不成功

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