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楼主: DebugLab

最近想用的几款 ADC、DAC

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发表于 2026-2-4 15:36:22 | 显示全部楼层
1、CAPA:模拟电源输出,内部LDO输出,接0.1uF和1uF电容到AVSS。
2、AVDD2:模拟电源输入,为ADC内核供电,可连接到AVDD1简化电源,或更低电压以降低功耗,接0.1uF和1uF电容到AVSS。(注1)
3、AVDD1:模拟电源输入,为内部输入缓冲器和采样开关供电,串联3Ω电阻接0.1uF和1uF电容到AVSS。(注1)
4、AINP:模拟输入,ADC模拟输入正。(注2)
5、AINN:模拟输入,ADC模拟输入负。(注2)
6、VCM:模拟输出,输出缓冲的 AVDD1-AVSS中点电压,为差分放大器提供共模电压,软件控制开关,不使用可不连接。
7、REFP:模拟输入,基准电压输入正,VREF=VREFP-VREFN,有输入缓冲器,软件控制开关,默认关。(注3)
8、REFN:模拟输入,基准电压输入负,VREF=VREFP-VREFN。(注3)
9、nRESET:数字输入,复位输入,低电平有效。(注4)
10、nCS:数字输入,片选输入,低电平有效。(注5)
11、SDI:数字输入,串行数据输入,SCLK下降沿时被锁存,空闲电平无要求。
12、SCLK:数字输入,串行时钟输入,上升沿更新输出数据,下降沿锁存输入数据,施密特输入,串电阻避免振铃和过冲。
13、SDO/nDRDY:数字输出,软件设置仅输出数据或同时输出数据和数据就绪指示,输出数据在SCLK上升沿更新,在CS高电平时高阻。(注6)
14、nDRDY:数字输出,数据就绪,低电平有效(注7)。
15、CLK:数字输入,时钟输入。(注8)
16、IOVDD:数字电源输入,IO电源,内部再稳压到1.25V为数字内核供电接,接0.1uF和1uF电容到DGND。(注1)
17、DGND:数字地。
18、CAPD:数字电源输出,内部LDO输出,电压1.25V,接0.1uF和1uF电容到DGND。
19、START:数字输入,转换开始。(注9)
20、AVSS:模拟电源输入,负模拟电源。(注1)

注1:
该器件有三个模拟电源引脚(AVDD1、AVSS和AVDD2)和一个数字电源引脚(IOVDD)。
电源可以按任意顺序供电,且能够承受电源电压缓慢或快速的斜坡速率。
在任何情况下,任何模拟或数字输入都不得超过相应的AVDD1和AVSS(模拟)或IOVDD(数字)电源。
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注2:
ADC的模拟输入是差分的,其输入定义为差分电压:VIN=VAINP-VAINN
为获得最佳性能,请用共模电压居中于电源中点 (AVDD1 + AVSS)/2 的差分信号驱动输入。

注3:
通过将参考电压分为两个工作范围(低参考范围和高参考范围),可优化ADC的运行。
参考电压范围必须进行编程,以匹配所施加的参考电压,例如2.5 V或4.096 V。
低参考工作范围为0.5 V至2.75 V,高参考工作范围为1 V至AVDD1 – AVSS电源电压。
在范围重叠的情况下(例如参考\(voltage =2.5 ~V ,\)),为获得最佳性能,请使用低参考范围。
将CONFIG1寄存器的REF_RNG位编程为与所施加参考电压相匹配的相应参考范围。
当选择高参考范围时,输入范围在内部被强制设为1x。

注4:
ADC在上电时会执行自动复位,也可通过RESET引脚或SPI操作进行手动复位。
复位时,控制逻辑、数字滤波器和SPI会重启,用户寄存器会重置为默认值。
有关复位后ADC何时可投入运行的详细信息,请参见图6-3。
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注5:
CS是一个低电平有效输入,用于启用通信接口。
通过将CS拉低开始通信帧,将CS拉高结束通信帧。
当CS被拉高时,无论移入的总位数如何,器件都会通过解析输入数据的最后16位(在CRC模式下为24位)来结束帧。
当CS为高电平时,SPI接口复位,命令被阻塞,且SDO/DRDY进入高阻态。
无论CS的状态如何,DRDY都是有效输出。
可将CS接低电平,以3线SPI模式操作接口。

注6:
SDO/DRDY是一个双功能输出引脚。
该引脚可通过编程设置为仅提供输出数据,或同时提供输出数据和数据就绪指示。
双功能模式在单个引脚上复用输出数据和数据就绪操作。输出数据在SCLK的上升沿更新。
当CS为高电平时,SDO/DRDY引脚处于高阻状态。
有关双功能操作的详细信息,请参见SDO/DRDY部分。
CONFIG2寄存器的SDO_MODE位用于对模式进行编程设置。

注7:
有多种方法可用于确定转换数据何时准备好可供回读。
1、硬件:监控DRDY或SDO/DRDY引脚
2、软件:监控STATUS报头字节的DRDY位
3、时钟计数:计算ADC时钟的数量,以预测数据何时准备就绪
DRDY是数据就绪输出信号。开始转换或重新同步时,DRDY变为高电平;转换数据就绪时,DRDY变为低电平。
读取转换数据期间,在第八个SCLK时,DRDY会变回高电平。
此行为适用于同步模式和启动/停止控制模式。
在单触发控制模式下,读取转换数据期间DRDY保持低电平。
如果ADC被编程为进入待机模式(STBY_MODE bit = 1b),则DRDY在变为低电平后的3个 fCLK 周期会变回高电平。
如果未读取转换数据,DRDY会在下一个下降沿之前短暂变为高电平。
有关每种转换控制模式下DRDY的操作详情,请参见同步部分。
无论CS是高电平还是低电平,DRDY都是有效输出。

注8:
图8-6展示了内部时钟电路的框图。
ADC可由外部时钟或内部振荡器驱动。
fCLK的标称值在高速模式下为25.6 MHz,在低速模式下为3.2 MHz。
CLK输入处有一个八分频选项,可对高速模式时钟频率进行分频,以提供低速模式时钟频率。
时钟频率经过二分频后得到调制器采样时钟(fMOD)。
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上电和复位后,ADC默认处于内部振荡器模式(CLK_SEL bit =0 b)。
内部振荡器的频率会自动切换至高速或低速运行。
由于内部振荡器存在时钟抖动,因此仅建议在直流信号测量中使用内部振荡器。
使用内部振荡器时,不建议进行交流信号测量。
将时钟模式从外部时钟切换到内部振荡器时,在完成用于更改时钟模式的SPI寄存器写入命令后,需保持外部时钟至少四个周期。
时钟模式更改后,ADC会在150微秒内忽略控制输入(START和RESET引脚),以便内部振荡器有时间稳定下来。
要使用外部时钟操作ADC,请将时钟信号施加到CLK引脚,然后将CLK_SEL位编程为1b。
有一种八分频选项,可使用高速模式时钟频率在低速模式下操作ADC(设置CLK_DIV bit = 1b)。
时钟频率可以从标称值降低,以在整数过采样率(OSR)值之间获得特定的数据速率。
不过,在降低的时钟频率下工作时的转换噪声与在较高时钟频率下的相同。
只有通过提高OSR值或更改滤波器模式,才能降低转换噪声。
时钟抖动会导致调制器采样出现时序偏差,从而降低信噪比性能。
要达到数据手册中的信噪比性能,低抖动时钟至关重要。
例如,对于200kHz的信号频率,需要外部时钟的抖动(均方根值)小于10皮秒。
对于更低的信号频率,时钟抖动要求每降低一个数量级的信号频率可放宽20分贝。
例如,对于 fIN =20 kHz,可以使用抖动为100皮秒的时钟。
许多类型的RC振荡器抖动较大,不应用于交流信号测量。
相反,应使用基于晶体的时钟振荡器作为时钟源。
避免时钟输入端出现振铃现象。
在时钟缓冲器的输出端串联一个电阻通常有助于减少振铃。

注9:
转换由START引脚同步和控制,或者也可以通过SPI操作进行控制。
如果通过SPI操作控制转换,请将START引脚保持为低电平,以避免与该引脚发生冲突。
向04h至0Eh范围内的任何寄存器写入数据会导致转换重新开始,从而造成同步丢失。
在这种情况下,可能需要重新同步ADC。
ADC有三种模式用于同步和控制转换:同步模式、启动/停止模式和单触发模式,每种模式都有特定的功能。
通过CONFIG2寄存器的START_MODE[1:0]位对所选的同步模式进行编程。
只有启动/停止模式和单触发控制模式可通过SPI操作进行控制。
ADC同步后,第一次转换得到的是完全稳定的数据,但与正常数据周期相比会产生延迟(等待时间)。
这种延迟是数字滤波器完全稳定所必需的。
等待时间取决于数据速率和滤波器模式(有关滤波器延迟的详细信息,请参见数字滤波器部分)。
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