8H1K08 全球唯一id号重复问题
我在使用过程中概率出现ID到号重复的问题，要怎么解决如真有及少数 ID 号一致的，可以考虑 扩展ID号
将 1.19V参考源的实际记录的电压，当作ID号的扩展部分
===不是固定的数，制造误差的原因
将 内部 32K LIRC 时钟实际记录的当时的数值，当作ID号的扩展部分
===不是固定的数，制造误差的原因，这个不同的概率极大
拿来当扩展ID号
不大可能ID一样啊，且参比电压也一致。 从芯片测试技术上讲，如果不同的ATE机台上没有设置不同的参数，同一个机台的不同测试site没有设置不同的参数
仅通过测试时间等方法生成一个ID号码的话，确实有可能多个工位上偶然产生了一样的ID。
“全球唯一ID号”可能是GUID的中文名称，而并非每颗芯片自身完全不同的号码。
这可能需要STC官网测试人员提供这个ID号码的生成和计算方法 跟着学习了！！！！ 这一样的就有点离谱了 建议收藏 不多见 不知道 这ID号是出片后测试的时候加进去还是生产过程中直接加进去的？
加进去的ID号不是先通过电脑查重后再加进去的吗？
神农鼎 发表于 2024-9-8 10:22
如真有及少数 ID 号一致的，可以考虑 扩展ID号
将 1.19V参考源的实际记录的电压，当作ID号的扩展部分
意思是官方并不保证全球唯一ID号的唯一性？ 本帖最后由 VCC 于 2024-11-7 20:32 编辑
xxkj2010 发表于 2024-11-7 09:06
不知道 这ID号是出片后测试的时候加进去还是生产过程中直接加进去的？
加进去的ID号不是先通过电脑查重后再 ...
测试产线上的机台非常多，他们都在各自给芯片写入ID号，ID号通过某种算法产生。
我认为没有必要为了写入完全唯一的序列号，让芯片测试多增加一个工序（会增加成本）
如果需要的话，应该通过ID号的生成算法保证，不同的机台不会产生相同的ID号
VCC 发表于 2024-11-7 20:31
测试产线上的机台非常多，他们都在各自给芯片写入ID号，ID号通过某种算法产生。
我认为没有必要为了写入 ...
哦，那难怪会出现重复的id号，不过，同一用户拿到相同id的芯片，这概率真的是微乎其微。
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