行列扫描按键不正常，都是扫描时序和IO设置的问题。
行列扫描按键，IO设置为准双向口，也可以打开内置的额 ...
您说的这种的不稳定，应该不是干扰导致的吧？如果是这种情况的话，我两个板子不管按键多少都会出现不稳定的情况，现实的情况是按键少的板子使用将近两年了一直没问题，按键多的那个板子集中出现问题。
我确实设置了准双向口，IO置位和读取的过程中都加了1ms的延时，没有打开内置的额外4K的上拉电阻，这点我可以试一下 lhf_1230 发表于 2024-5-29 16:21
您说的这种的不稳定，应该不是干扰导致的吧？如果是这种情况的话，我两个板子不管按键多少都会出现不稳定 ...
你们自己测试有发现不稳定吗？
扫描按键仅仅是输出IO、读取IO而已，这个本身不会导致不稳定，扫描键盘出现不稳定，通常是有强大的干扰导致IO变化（示波器很容易看出来）、或者软件处理不好，基本就是这两个原因。 梁工 发表于 2024-5-29 16:38
你们自己测试有发现不稳定吗？
扫描按键仅仅是输出IO、读取IO而已，这个本身不会导致不稳定，扫描键盘出 ...
在自己车间测试，从来没有出线过这样不稳定的现象，客户反馈不正常的，反反复复返回来几次也是完全正常的，返回客户现场又是频繁不正常，不止一个客户是这种情况，已经有十几家客户出现这样的现象了，包括国外的客户 lhf_1230 发表于 2024-5-29 16:42
在自己车间测试，从来没有出线过这样不稳定的现象，客户反馈不正常的，反反复复返回来几次也是完全正常的 ...
找个近的客户过去看看现场情况？ 真实环境和测试环境会差很多，真实环境会比较恶劣。 把实际电路原理图的PDF发上来，大家一起帮你分析 有时候不是不相信 准双向口 ,作为按键扫描的时候,要么外加上拉,要么使能内部上拉,会稳定很多. 把实际电路原理图的PDF发上来，大家一起帮你分析
行列式按键扫描，输入用高阻，打开内部上拉/或外部已有上拉，
===如打开内部上拉，则等 1mS, 再读外部状态，
===则外部对地分布电容再大，也可以认为外部被拉高了
===大概 T = 0.7 R*C
对应的内部上拉电阻，上电就打开，不要关 ！
外部上拉电阻在跑用户程序时，已有充分的时间
===将外部对地分布电容拉高了
===上电时就在同步拉高
后面行列式按键扫描，I/O要输出低电平，可以开漏输出低
===开漏输出低就是强推挽的输出低，从高拉低也是要时间的，这个较短
===开漏输出低就是准双向口的输出低
===开漏输出高就是高阻输入，从开漏输出低回到开漏输出高/浮空高阻输入
等外部实际被外部上拉电阻/内部上拉电阻拉高，还是要时间的
大概 T = 0.7 R*C
所有也可以统一用开漏模式
===到这个理解，也就及格了
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