芯启元 发表于 2026-7-3 17:19:21

85-内部148K字节SRAM读写测试,STC32G144K246实验箱演示程序

85-内部148K字节SRAM读写测试,STC32G144K246实验箱演示程序
主程序main.C代码如下(汇编版本在附件中):


/*---------------------------------------------------------------------*/
/* --- Web: www.STCAI.com ---------------------------------------------*/
/* --- BBS: www.STCAIMCU.com-----------------------------------------*/
/*---------------------------------------------------------------------*/

/*************功能说明    **************

本例程基于STC32G144K246为主控芯片的实验箱进行编写测试。

使用Keil C251编译器,Memory Model推荐设置XSmall模式,默认定义变量在edata,单时钟存取访问速度快。

edata建议保留1K给堆栈使用,空间不够时可将大数组、不常用变量加xdata关键字定义到xdata空间。

读取芯片SRAM,通过串口1(115200,N,8,1)打印结果.

项目设置"Target"页面"External Memory"-"RAM", Start:0x10000, Size:0x20000.

下载时, 默认时钟 48MHz (用户可自行修改频率).

******************************************/

#include "..\comm\STC32G144K246.h"

#define MAIN_Fosc       48000000UL

/*****************************************************************************/

#define Baudrate      115200L
#define TM            (65536 -(MAIN_Fosc/Baudrate/4))
#define PrintUart       1      //1:printf 使用 UART1; 2:printf 使用 UART2

/******************** 串口打印函数 ********************/
void UartInit(void)
{
#if(PrintUart == 1)
    P_SW1 &= 0x3f;
    P_SW1 |= 0x00;      //UART1 switch to, 0x00: P3.0 P3.1, 0x40: P3.6 P3.7, 0x80: P1.6 P1.7, 0xC0: P4.3 P4.4
        SCON = (SCON & 0x3f) | 0x40;
        T1x12 = 1;          //定时器时钟1T模式
        S1BRT = 0;          //串口1选择定时器1为波特率发生器
        TL1= TM;
        TH1= TM>>8;
        TR1 = 1;                                //定时器1开始计时

//        SCON = (SCON & 0x3f) | 0x40;
//        T2L= TM;
//        T2H= TM>>8;
//        AUXR |= 0x15;   //串口1选择定时器2为波特率发生器
#else
        S2_S = 1;       //UART2 switch to: 0: P1.0 P1.1,1: P4.6 P4.7
        S2CON = (S2CON & 0x3f) | 0x40;
        T2L= TM;
        T2H= TM>>8;
        AUXR |= 0x14;              //定时器2时钟1T模式,开始计时
#endif
}

void UartPutc(unsigned char dat)
{
#if(PrintUart == 1)
        SBUF = dat;
        while(TI==0);
        TI = 0;
#else
        S2BUF= dat;
        while(S2TI == 0);
        S2TI = 0;    //Clear Tx flag
#endif
}

char putchar(char c)
{
        UartPutc(c);
        return c;
}


long index;

#define EDATA_LEN       16074L
#define XDATA1_LEN      65536L
#define XDATA2_LEN      65536L
#define XDATA3_LEN      4096L

unsigned char edata eRAM;      //0000H~3FFFH
unsigned char xdata xRAM1;      //01:0000H~01:FFFFH
unsigned char far xRAM2 _at_ 0x020000;//02:0000H~02:FFFFH
unsigned char far xRAM3 _at_ 0x030000;//03:0000H~03:0FFFH

/*****************************************************************************/
void main(void)
{
    EAXFR = 1; //扩展寄存器(XFR)访问使能
    CKCON = 0; //提高访问XRAM速度

    P3M1 = 0x00;   P3M0 = 0x02;   //设置为准双向口,P31推挽输出

        UartInit();

        printf("SRAM Test Start.\r\n");
   
        for(index=0;index<XDATA1_LEN;index++)
        {
      if(index < EDATA_LEN)
      {
            eRAM = (unsigned char)index;
            if(eRAM != (unsigned char)index) printf("Err eRAM[%02u]=0x%02X\r\n", (unsigned int)index, eRAM);

//            printf("eRAM[%02u]=0x%02X", (unsigned int)index, eRAM);
      }

      if(index < XDATA1_LEN)
      {
            xRAM1 = (unsigned char)index;
            if(xRAM1 != (unsigned char)index) printf("Err xRAM1[%02u]=0x%02X\r\n", (unsigned int)index, xRAM1);
            
//            printf("xRAM1[%02u]=0x%02X", (unsigned int)index, xRAM1);
      }

      if(index < XDATA2_LEN)
      {
            xRAM2 = (unsigned char)index;
            if(xRAM2 != (unsigned char)index) printf("Err xRAM2[%02u]=0x%02X\r\n", (unsigned int)index, xRAM2);
            
//            printf("xRAM2[%02u]=0x%02X", (unsigned int)index, xRAM2);
      }

      if(index < XDATA3_LEN)
      {
            xRAM3 = (unsigned char)index;
            if(xRAM3 != (unsigned char)index) printf("Err xRAM3[%02u]=0x%02X\r\n", (unsigned int)index, xRAM3);
            
//            printf("xRAM3[%02u]=0x%02X", (unsigned int)index, xRAM3);
      }

//      printf("\r\n");
        }
   
        printf("SRAM Test End.\r\n");

        while(1);
}
/*****************************************************************************/


页: [1]
查看完整版本: 85-内部148K字节SRAM读写测试,STC32G144K246实验箱演示程序