06-外中断INT0-INT1-INT2-INT3- INT4测试，STC32G144K246实验箱演示程序
06-外中断INT0-INT1-INT2-INT3- INT4测试，STC32G144K246实验箱演示程序主程序main.C代码如下（汇编版本在附件中）：
/*---------------------------------------------------------------------*/
/* --- Web: www.STCAI.com ---------------------------------------------*/
/* --- BBS: www.STCAIMCU.com-----------------------------------------*/
/*---------------------------------------------------------------------*/
/*************功能说明 **************
本例程基于STC32G144K246为主控芯片的实验箱进行编写测试。.
使用Keil C251编译器，Memory Model推荐设置XSmall模式，默认定义变量在edata，单时钟存取访问速度快。
edata建议保留1K给堆栈使用，空间不够时可将大数组、不常用变量加xdata关键字定义到xdata空间。
用STC的MCU的IO方式驱动8位数码管。
显示效果为: 左边为INT0(SW4)中断计数, 右边为INT1(SW5)中断计数, 计数范围为0~255.
由于按键是机械按键, 按下有抖动, 而本例程没有去抖动处理, 所以按一次有多个计数也是正常的.
INT2, INT3, INT4 实验板上没有引出测试按键，供需要时参考使用.
下载时, 选择时钟 48MHz (用户可自行修改频率).
******************************************/
#include "..\..\comm\STC32G144K246.h"
typedef unsigned char u8;
typedef unsigned int u16;
typedef unsigned long u32;
/****************用户定义宏****************/
#define MAIN_Fosc 48000000UL
#define Timer0_Reload (65536UL -(MAIN_Fosc / 1000)) //Timer 0 中断频率, 1000次/秒
#define DIS_DOT 0x20
#define DIS_BLACK 0x10
#define DIS_ 0x11
/****************本地常量声明**************/
u8 code t_display[]={ //标准字库
// 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 A B C D E F
0x3F,0x06,0x5B,0x4F,0x66,0x6D,0x7D,0x07,0x7F,0x6F,0x77,0x7C,0x39,0x5E,0x79,0x71,
//black- H J K L N o P U t G Q r M y
0x00,0x40,0x76,0x1E,0x70,0x38,0x37,0x5C,0x73,0x3E,0x78,0x3d,0x67,0x50,0x37,0x6e,
0xBF,0x86,0xDB,0xCF,0xE6,0xED,0xFD,0x87,0xFF,0xEF,0x46}; //0. 1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. 8. 9. -1
u8 code T_COM[]={0x01,0x02,0x04,0x08,0x10,0x20,0x40,0x80}; //位码
/****************本地变量声明**************/
u8LED8; //显示缓冲
u8display_index;//显示位索引
u8INT0_cnt, INT1_cnt; //测试用的计数变量
u8INT2_cnt, INT3_cnt, INT4_cnt; //测试用的计数变量
/****************本地函数声明**************/
void delay_ms(u16 ms);
void DisplayScan(void);
/***************** 主函数 *********************/
void main(void)
{
u8i;
EAXFR = 1;//扩展寄存器(XFR)访问使能
CKCON = 0;//提高访问XRAM速度
P0M1 = 0x00; P0M0 = 0xff; //设置为推挽输出
PAM1 = 0x00; PAM0 = 0xff; //设置为推挽输出
P3PU = 0x0c; //P3.2,P3.3使能内部上拉电阻
display_index = 0;
for(i=0; i<8; i++)LED8 = DIS_BLACK; //全部消隐
INT0_cnt = 0;
INT1_cnt = 0;
IT0 = 1; //INT0 下降沿中断
//IT0 = 0; //INT0 上升,下降沿中断
IT1 = 1; //INT1 下降沿中断
//IT1 = 0; //INT1 上升,下降沿中断
IE1= 0; //外中断1标志位
IE0= 0; //外中断0标志位
EX1 = 1; //INT1 Enable
EX0 = 1; //INT0 Enable
//INT2, INT3, INT4 实验板上没有引出测试按键，供需要时参考使用
EX2 = 1; //使能 INT2 下降沿中断
EX3 = 1; //使能 INT3 下降沿中断
EX4 = 1; //使能 INT4 下降沿中断
EA = 1; //允许总中断
while(1)
{
delay_ms(1); //延时1ms
DisplayScan();
}
}
//========================================================================
// 函数: void delay_ms(unsigned int ms)
// 描述: 延时函数。
// 参数: ms,要延时的ms数.
// 返回: none.
// 版本: VER1.0
// 日期: 2025-11-01
// 备注: 由于芯片使能了Cache功能，软件延时时间可能不太准确
//========================================================================
void delay_ms(u16 ms)
{
u16 i;
do{
i = MAIN_Fosc / 6000;
while(--i);
}while(--ms);
}
/********************* INT0中断函数 *************************/
void INT0_int (void) interrupt 0 //进中断时已经清除标志
{
INT0_cnt++; //中断+1
}
/********************* INT1中断函数 *************************/
void INT1_int (void) interrupt 2 //进中断时已经清除标志
{
INT1_cnt++; //中断+1
}
/********************* INT2中断函数 *************************/
void INT2_int (void) interrupt 10 //进中断时已经清除标志
{
INT2_cnt++; //中断+1
}
/********************* INT3中断函数 *************************/
void INT3_int (void) interrupt 11 //进中断时已经清除标志
{
INT3_cnt++; //中断+1
}
/********************* INT4中断函数 *************************/
void INT4_int (void) interrupt 16 //进中断时已经清除标志
{
INT4_cnt++; //中断+1
}
/********************** 显示扫描函数 ************************/
void DisplayScan(void)
{
PAOUT = ~T_COM;
P0 = ~t_display];
if(++display_index >= 8)
{
display_index = 0;//8位结束回0
LED8 = INT0_cnt / 100;
LED8 = (INT0_cnt % 100)/10;
LED8 = INT0_cnt % 10;
LED8 = DIS_BLACK;
LED8 = DIS_BLACK;
LED8 = INT1_cnt / 100;
LED8 = (INT1_cnt % 100)/10;
LED8 = INT1_cnt % 10;
}
}
页:
[1]