8G1K08A的ADC2通道即P3.2引脚无法正常采集光敏分压信息（下拉电阻）
ADC端口配置信息如下：P0M0 = P0M1 = 0x00;
P1M0 = P1M1 = 0x00;
P2M0 = P2M1 = 0x00;
P3M0 = P3M1 = 0x00;
P4M0 = P4M1 = 0x00;
P5M0 = P5M1 = 0x00; //初始化，M0=0,M1=0，6组I/O统一配置为准双向模式
P0 = P1 = P2 = P3 = P4 = P5 = 0xFF; //bite位为1，高电平输出
P0PU = P1PU = P2PU = P3PU = P4PU = P5PU = 0xFF; //手动启用内部的上拉电阻，功耗增加（5uA->100~500uA),输出高电平更加稳定，抗干扰能力增强，需权衡
//ADC配置
//ADC配置主要是使能ADC电源、开启初始化通道0、采集数据对齐方式、采集速率、输入端口模式
ADC_CONTR = 0x80; // 使能ADC模块，1000 0000 第 7 位是电源开关 后四位选取ADC通道，同一时间只允许一个ADC通道启用，可以通过循环切换实现多路采集
ADCCFG = 0x2F; // 设置ADC采样数据右对齐，频率750KHz，0010 1111 第 5 位置1右对齐；置0左对齐，后四位设定时钟速率—SYSclk/2/(speed+1），1111即为SYSclk/2/16
//ADC I/O配置
P3M1 |=0x04; //P3M1第 2 位置1,0000 0100
P3M0 &=0xFB; //P3M0第 2 位置0,1111 1011 P3.2端口寄存器配置为，高阻输入模式，不改变其余端口配置
P3PU &=~(1<<2); //手动关闭内部上拉电阻，可以视检测结果开启，但同时需修改ADC分压计算公式
P5M1 |=0x20; //P5M1第 5 位置1,0010 0000
P5M0 &=0xDF; //P5M0第 5 位置0,1101 1111 P5.5端口寄存器配置为，高阻输入模式，不改变其余端口配置
P5PU =0xDF; //手动关闭内部上拉电阻 1101 1111，仅P5.5端口的上拉电阻被关闭
ADC调用：
light= 3.3-ADC_VRead(2); //光敏分压采集
vth=3.3-ADC_VRead(5); //电位器分压采集
测试发现，ADC 5 即P5.5引脚采集分压正常，可正常从0V跳变至接近VCC(3.3v)
ADC 2 即P3.2引脚采集光敏分压异常，无论是光敏电阻还是光敏二极管均出现类似情形：
下拉电阻为75K, 光敏接vcc
未接通单片机时，分压正常（暗环境下光敏分压接近VCC）
接通单片机后
未上电前处在暗环境，上电后分压为2.8V
上电后给光照后，分压为0.13V
上电后，从光照环境重新转为暗环境，分压为0.36V，无法抬升至接近VCC水平
请求大佬解惑！！！
针对您提到的STC8G1K08A的ADC2通道（P32引脚）无法正常采集光敏分压信息的问题，以下是一些可能的原因及解决方案，供您参考：
1. ADC配置问题
ADC通道选择：确保ADC2通道已正确配置为输入模式，并且已选择为当前ADC转换的通道。可以通过检查ADCCONTR寄存器中的CHS2:CHS0位来确认。
ADC时钟配置：ADC的采样速率和转换精度与时钟配置密切相关。请检查ADCCONTR寄存器中的SPEED1:SPEED0位，确保时钟配置合理。通常，较高的时钟频率可以提高采样速率，但可能会降低转换精度。
ADC参考电压：确保ADC的参考电压（VREF）设置正确。如果使用内部参考电压，请检查VREF引脚是否连接了适当的去耦电容。
2. 引脚配置问题
P32引脚模式：虽然您已经将P3M0和P3M1配置为准双向模式，但ADC输入引脚通常需要配置为高阻输入模式（P3M0=0, P3M1=1），以避免外部电路对ADC采样的干扰。
上拉电阻配置：您已经启用了内部上拉电阻，但请注意，上拉电阻可能会影响光敏分压的测量结果。如果光敏电阻的阻值较低，上拉电阻可能会导致分压比偏离预期。建议尝试禁用上拉电阻（P3PU=0），观察是否有所改善。
3. 硬件电路问题
光敏电阻与下拉电阻的匹配：确保光敏电阻与下拉电阻的阻值匹配合理。如果光敏电阻的阻值范围较大，可能需要调整下拉电阻的阻值，以确保分压比在ADC的有效输入范围内。
电源稳定性：检查电源电压是否稳定，尤其是ADC参考电压。电源噪声或波动可能会影响ADC的采样精度。
信号滤波：在光敏电阻与ADC输入引脚之间添加适当的滤波电容（如0.1μF），以滤除高频噪声，提高采样稳定性。
4. 软件问题
ADC采样时间：确保ADC采样时间足够长，以充分采集光敏分压信号。可以通过调整ADCCONTR寄存器中的SPEED1:SPEED0位来延长采样时间。
多次采样取平均：为了提高采样精度，可以多次采样并取平均值，以减少随机噪声的影响。
5. 调试建议
使用示波器：使用示波器观察P32引脚的电压波形，确认光敏分压信号是否符合预期。
逐步排查：从硬件电路到软件配置逐步排查问题，先确认硬件电路工作正常，再检查软件配置是否正确。
示例代码
以下是一个简单的ADC配置示例，供您参考：
```c
include "stc8g.h"
void ADCInit() {
P3M0 = 0x00;// P3口配置为准双向模式
P3M1 = 0x04;// P32配置为高阻输入模式
P3PU = 0x00;// 禁用P32上拉电阻
ADCCONTR = 0x80;// 打开ADC电源
ADCCONTR |= 0x02; // 选择ADC2通道（P32）
ADCCONTR |= 0x20; // 设置ADC时钟为系统时钟的1/2
nop();
nop();
}
unsigned int ADCRead() {
ADCCONTR |= 0x08; // 启动ADC转换
while (!(ADCCONTR & 0x10)); // 等待转换完成
ADCCONTR &= ~0x10; // 清除转换完成标志
return (ADCRES
[本文内容由国芯人工智能辅助生成，仅供参考]
下载附件接压缩后，直接下载“ADC相关程序-STC8G1K08A-8PIN --> 02-5路ADC转换-BandGap-串口1(P3.1)返回结果-C语言 --> ADC.hex”测试。
/************* 功能说明 **************
用户请先别修改程序, 直接下载"02-5路ADC转换-BandGap-串口1(P3.1)返回结果-C语言"里的"ADC.hex"测试. 下载时选择主频11.0592MHZ。
测试时, 电脑的串口助手设置115200,8,n,1.
本程序演示4路ADC(P3.0 P3.2 P3.3 P5.4 P5.5)和bandgap查询采样，通过串口1(P3.1)发送给上位机，波特率115200,8,n,1.
0~3通道对应P3.0~P3.3, 4通道-->P5.4, 5通道-->P5.5, 15通道为内部1.19V基准电压做输入的ADC值.
******************************************/
P32IE设置为0试一下 从代码上来看，似乎并没有问题。从我之前使用光敏电阻的情况来看，可能需要注意的是，遮挡光敏电阻进入暗环境的时候，需要完全遮挡（包括光敏电阻的周边及其底部，否则有一点点光也会出现不够暗的情况）。
同时，可以给P32到光敏电阻电压采集加个小开关，然后测一测接上去电压会不会有波动，如果没有波动，单片机端应该就没有什么很大的问题 DebugLab 发表于 2025-4-22 22:27
P32IE设置为0试一下
程序里没有用到P32中断，刚设置过了，依然无效 王昱顺 发表于 2025-4-23 08:47
从代码上来看，似乎并没有问题。从我之前使用光敏电阻的情况来看，可能需要注意的是，遮挡光敏电阻进入暗环 ...
P32引脚通路接上轻触开关
暗环境（以确保极暗）下，不接单片机，电压为3.2V，接近VCC,分压正确
按下轻触开关，电压立即跳至0.3V，与之前测试结果一致{:liulei:}{:liulei:}{:liulei:}
紫气东 发表于 2025-4-23 08:48
程序里没有用到P32中断，刚设置过了，依然无效
紫气东 发表于 2025-4-23 09:30
P32引脚通路接上轻触开关
暗环境（以确保极暗）下，不接单片机，电压为3.2V，接近VCC,分压正确
按下轻触 ...
主循环持续给这个端口置1，并且切换到高阻模式试试，怀疑可能是其他什么地方给模式和端口状态改变了 DebugLab 发表于 2025-4-23 09:32
不行啊哥，置零后依然无效
//ADC I/O配置
P3M1 |=0x04; //P3M1第 2 位置1,0000 0100
P3M0 &=0xFB; //P3M0第 2 位置0,1111 1011 P3.2端口寄存器配置为，高阻输入模式，不改变其余端口配置
P3PU &=~(1<<2); //手动关闭内部上拉电阻，可以视检测结果开启，但同时需修改ADC分压计算公式
P3IE &=0xFB;
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