主循环持续给这个端口置1，并且切换到高阻模式试试，怀疑可能是其他什么地方给模式和端口状态改变了 ...
主循环持续置1，并重置为高阻模式不可行，依然与原测试结果一致
但主循环不置1，仅不停给P32配置为高阻模式，光敏分压正常！
程序其它部分没有修改P32端口值和端口模式
本硬件方案中，光敏电阻或者光敏二极管上拉，P32采集的是下拉电阻分压，发现分压采集异常，P32端口疑似被置1，导致光敏分压无法抬升，但P55同样是光敏上拉，分压采集正常。
有另一个硬件方案
光敏电阻下拉，P32直接采集光敏电阻分压，分压正常；若换成光敏二极管下拉，P32直接采集光敏二极管分压，分压采集同样异常，P32端口疑似被置1，电压无法降落，而P55端口始终采集正常
这两套硬件方案，使用的是同一套代码 紫气东 发表于 2025-4-23 11:36
主循环持续置1，并重置为高阻模式不可行，依然与原测试结果一致
但主循环不置1，仅不停给P32配置为高阻 ...
那就读取前配置一下高阻模式吧，我更倾向于有什么设置给端口配置改变了 王昱顺 发表于 2025-4-23 12:24
那就读取前配置一下高阻模式吧，我更倾向于有什么设置给端口配置改变了 ...
程序本身架构是很简单的，这边ADC采样后，只对采样数值进行比较修改，另外还有一个状态机模块和定时器时钟，但都不涉及对端口电平和端口模式的修改，我也只启用了两路ADC采样，其余配置为准双向+高电平输出，未做功能复用设置
我怀疑P32端口本身存在某些限制或单片机各端口之间设置了异常情形进入条件刚好被我满足了
当前只能靠循环配置P32的高阻模式来解决这个问题
感谢您的答复{:aixin:}
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