请教！ADC采样端口没有输入时仍然有电压值是什么原因？【结贴！程序有误！】
问题的出现：我的这个时钟试运行了4个多月了，ADC0采样的电池电压监测功能一直运行正常，昨天修改了一处时钟的非ADC相关的驱动代码，
重新烧录程序后就出现了已经配置为高阻输入用于ADC0采样的P1.0端口始终输出高电平的状况（输出3V比正常端口高电平3.2V略低），
我百思不得其解，接下来怎么弄就不会了请高手指点！！
1.所用单片机为STC8H8K64U（20引脚）。
2.ADC0通道、P1.0引脚。
3.单片机供电电压VDD=3.3V。
4.P1.0端口配置为P1M0 = 0x00; P1M1 = 0x01; //P1.0为ADC采样口配置为高阻输入
5.采样输入电路如图：
6.测量结果及故障现象：VCC在5V至3.2V时，无论mos开关导通状态还是关闭状态，模拟输入电压V_ADC0都是3V。
7.进一步检查发现拆除R03、R04后V_ADC0的输出电压为3V，并且这个V_ADC0输出电压可以点亮串联1k电阻的LED发光管。
8.ADC代码如下：
#define BGV (*(unsigned int volatile xdata *)0xfde7)//在xdata地址0xfde7中读取内部 1.19V 参考信号电压
//----------------------------------------------------------------------------------------------------------
void ADC_Init()
{
ADCCFG = 0x2f; //所有通道的转换结果数据为右侧对齐模式、SYSclk/2/16（转换速度最低）
ADCTIM = 0x3f;//设置通道选择时间、保持时间、采样时间
ADCEXCFG = 0x07;//转换16次并取平均值(STC8H4K、STC8H8K系列芯片支持扩展寄存器设置硬件自动取平均值功能)
NOP5();
}
//-----------------------------------------------------------------------------------------------------------
u16 ADC_Read(u8 n)
{
ADC_RES = 0;
ADC_RESL = 0;
ADC_CONTR = 0x80 | 0x40 | n;//ACD模块上电0x80、使能ADC转换0x40、给定ADC通道n
delay_ms(2);
while((ADC_CONTR & 0x20) == 0); //等待ADC转换标志ADC_FLAG=1
ADC_CONTR &= ~0x20; //清除标志ADC_FLAG
return (((u16)ADC_RES << 8) | ADC_RESL);
}
//-----ADC数据输出函数--------------------------------------------------------------------------------------
u16 ADC_out(u8 adc_x)
{
u16 adc_data0 = 0;
u32 adc_data1 = 0;
//读取15通道的ADC值
ADC_Read(15); //先读一次15通道并丢弃结果
adc_data0 = ADC_Read(15); //获得15通道16次平均值（硬件平均值运算）
//读取adc_x通道的ADC值
ADC_Read(adc_x); //先读一次目标通道并丢弃结果
adc_data1 = ADC_Read(adc_x); //获得硬件16次平均值
adc_data1 = BGV * adc_data1 / adc_data0; //对比ADC15通道采样值利用STC单片机内部基准电压值换算目标通道电压值(数据放大1000倍）
return (u16)adc_data1;
}
针对您描述的ADC采样端口P1.0在没有输入时仍然有电压值的问题，以下是一些可能的原因及相应的排查建议：
1. 代码修改引入的异常
问题分析：您在修改了非ADC相关的驱动代码后，出现了P1.0端口始终输出高电平的现象。这可能是由于代码修改意外影响了ADC相关寄存器的配置，或者引入了某些异常状态。
排查建议：
检查修改的代码是否间接影响了ADC相关寄存器的配置，尤其是与P1.0端口相关的寄存器。
确保ADC初始化代码（如ADCCFG和ADCTIM）在程序启动时正确执行，且未被后续代码覆盖或修改。
使用调试工具（如逻辑分析仪或调试器）检查P1.0端口的状态，确认其是否被意外配置为输出模式。
2. 硬件电路问题
问题分析：您提到拆除R03、R04后，VADC0的输出电压仍为3V，并且可以点亮LED。这表明P1.0端口可能存在内部上拉或外部电路异常。
排查建议：
检查P1.0端口的外部电路，确认是否存在短路、漏电或其他异常情况。
确认P1.0端口的配置是否正确（P1M0 = 0x00; P1M1 = 0x01;），确保其被配置为高阻输入模式。
检查单片机的供电电压（VDD=3.3V）是否稳定，是否存在电源噪声或波动。
3. ADC模块内部问题
问题分析：如果ADC模块内部存在故障，可能会导致采样端口出现异常电压。
排查建议：
尝试切换到其他ADC通道（如ADC1），检查是否也存在类似问题。
检查ADC参考电压（如内部1.19V参考信号）是否正常，确保ADC模块的参考电压源稳定。
如果可能，使用外部参考电压源进行测试，排除内部参考电压异常的可能性。
4. 程序逻辑问题
问题分析：程序逻辑中可能存在某些条件或状态导致P1.0端口被意外拉高。
排查建议：
检查程序逻辑，确认是否存在某些条件分支或中断服务程序意外修改了P1.0端口的状态。
在程序中添加调试信息，记录P1.0端口的状态变化，帮助定位问题。
5. 单片机硬件故障
问题分析：如果以上排查均未发现问题，可能是单片机硬件本身存在故障。
排查建议：
尝试更换同型号的单片机，确认问题是否依然存在。
如果更换单片机后问题消失，则可能是原单片机硬件损坏，需要更换。
总结
建议您按照以下步骤逐步排查：
1. 检查代码修改是否影响了ADC相关配置。
2. 确认P1.0端口的外部电路和配置是否正确。
3. 测试其他ADC通道，排除ADC模块内部故障。
4. 检查程序逻辑，确保P1.0端口状态未被意外修改。
5. 如果以上步骤均未解决问题，考虑更换单片机以排除硬件故障。
希望以上建议能帮助您定位并解决问题。如果问题仍然存在，建议进一步提供详细的电路图和代码片段，以便更深入地分析。
[本文内容由国芯人工智能辅助生成，仅供参考] 检查单片机IO是否损坏，换一个单片机试试
其他功能是否正常，检查是不是哪里卡住，不能执行设置IO口为高阻的指令，或意外被设置为推挽
主时钟是否接近极限频率，如是，要正确设置IAP_TPS寄存器，如仍有异常，尝试设置IRCDB寄存器为16 ADC输入为高阻，悬空时可以读到任意值，因为你没有给定一个电压，所以输入端时浮空的，电压会不确定。 梁工 发表于 2025-4-1 14:23
ADC输入为高阻，悬空时可以读到任意值，因为你没有给定一个电压，所以输入端时浮空的，电压会不确定。 ...
非常感谢各位对我的问题的回应，也非常感谢一楼层主对我的问题的详细回复，其实我最初对全部代码的修改仅仅更改了一个端口状态设定：
sbit ADC0_Power = P3 ^ 1;
ADC0_Power = 1;//为采样分压电阻供电
NOP10();
date = ADC_out(0); //获取标志后读取ADC0通道采样值并保存在公共变量中
NOP10();
ADC0_Power = 0;//关闭采样分压电阻供电
我仅仅是修改了最后一句的赋值，修改之前为ADC0_Power = 1;修改之后为ADC0_Power = 0;
设计硬件开关的初心就是为了省电，每次采集数据时先给采样电阻通电，采集完毕好给采样电阻断电，这个修改应该与P1.0通道无关。另外我很多测试都是在锂电池供电状态下进行的应该与“电源干扰”无关。
刚才我再次修改代码，失能了所有与ADC相关的操作，失能了所有主循环中的操作，在P1.0为准双向模式或高阻模式的两种状态下主循环中分别仅执行一句P10=0;代码，结果都一样，就是P1.0始终为3V，难到我起初修改代码的那次烧录操作就损坏了P1.0口？而单片机除了P1.0口有问题外的其他控制一切正常。不可思议！
我准备明天换掉芯片在试试吧。
梁工 发表于 2025-4-1 14:23
ADC输入为高阻，悬空时可以读到任意值，因为你没有给定一个电压，所以输入端时浮空的，电压会不确定。 ...
实际应用的步骤是P3.1=1；-->mos开关导通-->启动ADC0-->读取数据-->P3.1=0;-->mos开关关断，在mos开关关断后就没有采集数据操作了也就不理会P1.0的状态了，出现问题后发现电池图标始终显示满电状态，此后无论mos开关是否导通P1.0口电压保存3V不变了其远远超过了实际满电电压2.1V（锂电池满电4.2V，1/2分压采样）。 乐此不疲 发表于 2025-4-1 18:27
实际应用的步骤是P3.1=1；-->mos开关导通-->启动ADC0-->读取数据-->P3.1=0;-->mos开关关断，在mos开关关断 ...
那你实际测量下MOSFET的D极电压和P1.0电压多少V？
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