8H8K64U的ADC转换电压上升读入数值会下降，电压下降读入数值会上升
原来用IAP15W4K十位ADC没问题，现在试验STC8H8K64U芯片，发现电压上升到1.50V再往上升ADC转换读入数值会从1208跳到1288，
再上升电压到1.52V,ADC数值变成1236，反而变小了，有跳变。
反过来电压下降也会读入数值突然变大或变小，
就在1.5V这里最明显，而且线性度也不好。
在任何一个电压点上ADC数值波动很小，可以排除干扰因数。
换了一片单片机还是一样，P1口设为高阻输入也一样。
求大神点拨一二，谢谢！
程序是连续9次采样后取中间3次结果算术平均，这在15W上一点没问题。
ADCTIM = 0x3F; //AD采样时间控制
ADCCFG = 0x2F; //AD转换右对齐，高4为在前低8为在后，工作频率最慢为F
ADC_CONTR |= 0x80; //打开AD转换电源
ADC_CONTR = ADC_CONTR | 0x00; //P1.0为AD转换通道
for (j=0;j<9;j++) //AD转换9次
{
ADC_CONTR |= 0x40; //启动AD转换， STC8H8K64U
_nop_();
_nop_();
while (!(ADC_CONTR & 0x20)); //查询ADC完成标志 STC8H8K64U
ADC_CONTR &= ~0x20; //ADC_FLAG清0 STC8H8K64U
AD_Dat = ADC_RES; //读入AD转换高4位
AD_Dat <<= 8; //左移8位 STC8H8K64U
Tmp = ADC_RESL; //读入AD转换低8位
AD_Dat |= Tmp; //高低字节拼成1个12位数 STC8H8K64U
Mun_AD = AD_Dat;//存入9次AD转换值
}
针对您描述的STC8H8K64U芯片AD转换异常问题，建议从以下几个方面进行排查和优化：<br><br>1. **ADCTIM寄存器配置**<br> STC8H8K64U的ADC采样时间由ADCTIM寄存器控制，建议根据数据手册调整采样时间，确保采样周期足够长，避免因采样时间不足导致采样值不稳定。可尝试增加采样时间，观察是否有改善。<br><br>2. **参考电压稳定性**<br> 检查ADC参考电压（VREF）是否稳定。STC8H8K64U的ADC性能对参考电压的稳定性较为敏感，建议使用外部高精度参考电压源，并确保电源滤波电容配置合理。<br><br>3. **输入阻抗匹配**<br> 虽然P1口已设为高阻输入，但仍需检查外部电路输入阻抗是否匹配。高阻抗输入容易引入噪声，建议在输入端添加小电容（如100pF）进行滤波，减少高频干扰。<br><br>4. **非线性校正**<br> 由于您提到线性度问题，可能是ADC本身的非线性特性导致。建议对ADC进行校准，采集多点数据并拟合曲线，通过软件进行非线性补偿。<br><br>5. **程序优化**<br> 您的采样算法（9次采样取中间3次平均）在IAP15W4K上运行良好，但STC8H8K64U的ADC特性可能不同。建议增加采样次数（如16次）并采用更复杂的滤波算法（如中值滤波+滑动平均）以提高稳定性。<br><br>6. **硬件排查**<br> 若问题依然存在，建议检查PCB布局，确保模拟信号走线与数字信号走线隔离，减少串扰。同时，确认电源和地线设计是否合理。<br><br>通过以上步骤，应能有效改善AD转换的稳定性和线性度。若问题仍未解决，建议联系STC官方技术支持，获取进一步帮助。<br><br>[本文内容由国芯人工智能辅助生成，仅供参考]
STC8H8K64U的12位ADC比STC15的10位ADC性能好得多，精度就是12位。
请测试我的例程，并将结果贴出来。
07-8H8K64U-15路12位ADC转换-串口1(P3.1)返回结果-C语言
请别修改程序, 直接下载"07-8H8K64U-15路ADC转换-串口1(P3.1)返回结果-C语言"里的"ADC.hex"测试。
下载时选择主频11.0592MHZ. 测试时, 电脑的串口助手设置115200,8,n,1.
本程序演示15路ADC和bandgap查询采样，转换结果转为十进制文本通过串口1(P3.1)发送给上位机，波特率115200,8,n,1，文本方式。
只关心你的那一路ADC值即可，其余的ADC值不用理会。
业余推荐的测试方法：用电位测试，用高精度电压表对比，见下图：
国芯人工智能 发表于 2025-3-13 15:53
针对您描述的STC8H8K64U芯片AD转换异常问题，建议从以下几个方面进行排查和优化：1. **ADCTIM寄存器配置**...
好了，谢谢！昨天高阻设错了，搞了半天，AD转换口一定要设为高阻
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