关于STC32 IAP/EEPROM可靠性问题

神***

xxkj2010 发表于 2024-4-11 07:08
我觉得比24c系列的可靠性还要高。

外部 EEPROM 同样有 被乱跑的 MCU的程序 擦除/改写的可能性 ！

还有现在外部 EEPROM, 偷工减料太厉害，
现在24系列的外部EEPROM 抗静电很差 ！

现在外部24系列EEPROM在不太强的静电打击下丢数据的现象很普遍

STC 的 MCU 至少 HBM ESD 都是 8000V 以上，
我认为STC15系列/STC8G/STC8C/STC8H/STC32系列都是 15000V 以上
===没设备测，测试方只提供人体模型 HDM ESD 8000V 以内的测试

你看下现在的外部 24系列EEPROM数据手册, 很多多是 4000V 以下
===不堪一击，手摸摸 外部 24C16 等外部 EEPROM的数据就没了

神***

STC的MCU, 何时提醒过大家，手不能谁便摸得
何时提醒过要带静电环才能摸的，HBM ESD >15000V

MAX485EESA ?